Placa de evaluación ESD USB Type-C™ NEVB21-USBC1UL
La placa de evaluación ESD USB Type-C™ NEVB21-USBC1UL de Nexperia está diseñada para demostrar la protección ESD miniaturizada para los puertos USB Type-C. La placa de evaluación NEVB21-USBC1UL muestra diodos de protección ESD en paquetes DFN0603-3 miniatura de 0.63 mm x 0.33 mm x 0.25 mm. Estos dispositivos cuentan con dos dispositivos de protección en un gabinete y ofrecen los beneficios de la tecnología TrEOS, capacitancia muy baja, sujeción muy baja y solidez muy alta. Estos dispositivos también ofrecen un excelente rendimiento de RF en las líneas de datos de alta velocidad.
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