2047 Lógica de función especial

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Seleccionar Imagen N.° de pieza Fabricante: Descripción Hoja de datos Disponibilidad Precio: (USD) Filtre los resultados en la tabla por precio unitario en función de su cantidad. Cantidad RoHS Modelo ECAD Serie Temperatura de trabajo mínima Temperatura de trabajo máxima Paquete / Cubierta Empaquetado
Texas Instruments Lógica de función especial Mil Enhanced 3.3V AB T Scan Test Device A 595-8V182512IDGGREP Plazo de entrega no en existencias 18 Semanas
Min.: 2,000
Mult.: 2,000
Carrete: 2,000

SN74LVTH182512 - 40 C + 85 C TSSOP-64 Reel
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